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半導體芯片檢測顯微鏡
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產品名稱:

半導體芯片檢測顯微鏡

產品型號: DMM-1200C
產品特點: 上海蔡康太陽能顯微鏡廠專業生產太陽能檢測顯微鏡,光伏電池檢測顯微鏡,半導體芯片檢測顯微鏡,晶體硅檢測顯微鏡,熔深檢測顯微鏡,歡迎廣大客戶咨詢,我們熱忱為廣大客戶提供優質的服務。
半導體芯片檢測顯微鏡詳細資料:

 
 
                                                     微分干涉金相顯微鏡(晶圓金相顯微鏡):DMM-1200C
 
一、微分干涉金相顯微鏡儀器的主要用途和特點
    DMM-1200
微分干涉金相顯微鏡(DIC)采用優質的無限遠光學系統,微分干涉相襯顯微鏡適用于對多種物體的顯微觀察。配置落射DIC觀察系統與透射照明系統、無限遠長距平場消色差物鏡、大視野目鏡和偏光觀察裝置,具有圖像立體感且清晰、操作方便等特點,是生物學、金屬學、礦物學、精密工程學、電子學等研究的理想儀器,可選用微分干涉(DIC)觀測、獲得高清晰的圖像,使圖像襯度更好,是針對半導體晶圓檢測、太陽能硅片制造業、電子信息產業、治金工業開發的,作為工業金相顯微鏡使用;可進行明場觀察、落射偏光、DIC觀察,廣泛用于工廠、研究機構、高等院校對太陽能電池硅片、半導體晶圓檢測、電路基板、FPD、精密模具的檢測分析。
  
DMM-1200C微分干涉金相顯微鏡是將的光學顯微鏡技術、優良的光電轉換技術、數碼成像技術緊密地結合在一起而開發研制成功的理想產品。既可人工觀察金相圖像,又可以在數碼相機上很方便地適時觀察金相圖像,并可隨時拍攝記錄金相圖片,從而對金相圖譜進行分析,評級等,還可以保存或打印出高像素金相照片。
 
 
 
二、大平臺微分干涉金相顯微鏡儀器的主要技術指標
金相顯微鏡組件及規格
光學系統 無窮遠光學系統
主機 DMM-1200倒置金相顯微鏡主機
目鏡 大視野 WF10X(Φ22mm)
WF15X(Φ16mm)
WF20X(Φ12mm)
平場分劃 10X/Φ20mm(0.10mm/格值)
物鏡 無限遠長工作距離平場消色差
 
放大倍數/數值孔徑 有效工作距離
PL5X/0.12 26.1
PLL10X/0.25 20.2
PLL20X/0.4 8.8
PLL40X/0.6 3.98
目鏡筒 三目鏡 鉸鏈式,傾斜30度,分光比:觀察80% 攝影20%;或觀察100% 攝影100%
濾片組 全系列濾色片
物鏡轉換器 五孔物鏡轉換器
調焦機構 同軸粗微動調焦機構,帶鎖緊和限位裝置, 調焦范圍30mm 微動格值0.8μm
載物臺 臺面尺寸:280mm*270mm;
移動范圍:橫向(X)204mm,縱向(Y)204mm
照明系統 落射照明12V/50W,鹵素燈,中心、亮度連續可調
微分干涉 可使用于5X、10X、20X
 
三、大平臺微分干涉金相顯微鏡系統的組成
1、金相顯微鏡DMM-1200            
2、數碼適配鏡
3、彩色數碼相機
4、計算機(選購)
 
四、大平臺微分干涉金相顯微鏡選購部分
1.金相分析軟件
 
五 、大平臺微分干涉金相顯微鏡同類儀器的比較
1、DMM-1200C電腦微分干涉顯微鏡
2、DMM-1200D數碼微分干涉顯微鏡
 
、大平臺微分干涉金相顯微鏡相關設備

金相設備 金相拋光機 金相切割機 金相砂紙 金相切割片 金相鑲嵌機 金相預磨機 顯微硬度計 端淬試驗機
 
 
 
 
 
 
 
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